 |
реклама |
|
|
|
|
|
|
|
История науки и техники
Аннотация к статье << Назад
|
РАЗРАБОТКА СОВРЕМЕННЫХ МЕТОДОВ ДИАГНОСТИКИ МАТЕРИАЛОВ МИКРО- И НАНОЭЛЕКТРОНИКИ МЕТОДАМИ РЕНТГЕНОВСКОЙ ДИФРАКТОМЕТРИИ, ГАММА-РЕЗОНАНСНОЙ СПЕКТРОСКОПИИ И МАГНИТОМЕТРИИ |
М.А. Чуев, А.А. Ломов
Показано развитие лаборатории «Физики поверхности и микроэлектронных структур» с момента ее основания по настоящее время. Приведены наиболее интересные полученные результаты.
Ключевые слова: физика поверхности; гамма-резонансная спектроскопия; рентгеновская дифрактометрия и магнитометрия; исследования с субнанометровой точностью.
DOI: 10.25791/intstg.08.2018.105
Контактная информация: Е-mail: chuev@ftian.ru
Стр. 47-53. |
|
|
|
Последние новости:
Выставки по автоматизации и электронике «ПТА-Урал 2018» и «Электроника-Урал 2018» состоятся в Екатеринбурге Открыта электронная регистрация на выставку Дефектоскопия / NDT St. Petersburg Открыта регистрация на 9-ю Международную научно-практическую конференцию «Строительство и ремонт скважин — 2018» ExpoElectronica и ElectronTechExpo 2018: рост площади экспозиции на 19% и новые формы контент-программы Тематика и состав экспозиции РЭП на выставке "ChipEXPO - 2018" |
